★ 用自測(cè)辦法

☀ 對(duì)通道模板進(jìn)行悉數(shù)查看，格外應(yīng)查看通道模板有否開裂和機(jī)械損害，元件有否松動(dòng)。
★ 模擬量輸入通道模板系列的實(shí)驗(yàn)查看辦法
☀ 查看項(xiàng)目；絕緣電阻查看;動(dòng)作功用查看;尋址功用查看;采樣速度查看;度查看;抗攪擾查看。
★ 共模攪擾;串模攪擾;特別功用查看。
☀ 查看辦法；絕緣電阻查看；本查看辦法僅適用于阻隔型的通道模板，對(duì)非阻隔型的通道模板絕緣電阻查看辦法由供需雙方商定。
★ 半阻隔型通道模板
☀ 將輸入端子悉數(shù)短接后與核算機(jī)地之間用規(guī)則直流電壓兆歐表進(jìn)行測(cè)驗(yàn)。絕緣電阻值應(yīng)契合制造廠規(guī)則。
★ 全阻隔型通道模板
☀ 除按6.2.1.1測(cè)驗(yàn)辦法測(cè)驗(yàn)以外，還應(yīng)將各路輸入端子別離短接，參照上述辦法測(cè)量各路輸入端子之間的絕緣電阻。
★ 動(dòng)作功用查看
★ 尋址功用查看；對(duì)被測(cè)通道模板的某一路輸入90%量程的被測(cè)信號(hào)，其它路都輸入零信號(hào)，然后運(yùn)用測(cè)驗(yàn)查看程序進(jìn)行測(cè)驗(yàn)，并在。盯上或許其它顯現(xiàn)儀器上調(diào)查，成果只要該路有信號(hào)，其它路均為零按上述辦法對(duì)每路都測(cè)驗(yàn)一遍，承認(rèn)尋址功用正常。
☀ 采樣速度查看；任選兩路，在測(cè)量規(guī)模下限值的基礎(chǔ)上，別離參加量程的5%和95%輸入信號(hào)，以制造廠規(guī)則的采樣速度進(jìn)行替換采樣測(cè)驗(yàn)，測(cè)驗(yàn)成果應(yīng)契合規(guī)則度目標(biāo)請(qǐng)求。
☀ 此刻，用示波器或計(jì)時(shí)器測(cè)定AI通道模板進(jìn)行一次采樣所用時(shí)刻(采樣時(shí)刻).取其倒數(shù)即為采樣速度。
☀ 度查看；通道模極的度為實(shí)測(cè)的平均差錯(cuò)與3倍的均方根差錯(cuò)之和。實(shí)驗(yàn)電路見圖1所示。
 
☀ 實(shí)驗(yàn)用的信號(hào)源應(yīng)為規(guī)范信號(hào)源。實(shí)驗(yàn)中，采樣速度應(yīng)取被測(cè)通道模板商品闡明書的規(guī)則值。
☀ 實(shí)驗(yàn)中，應(yīng)依據(jù)被測(cè)AI通道模板各路的最程巨細(xì)，別離選定若干值為實(shí)驗(yàn)點(diǎn)，每路實(shí)驗(yàn)點(diǎn)數(shù)最少5個(gè)，請(qǐng)求均勻分布在全部量程規(guī)模內(nèi)，包含挨近但不等于測(cè)量規(guī)模上、下限值在內(nèi)的二個(gè)點(diǎn)，一起各路的實(shí)驗(yàn)點(diǎn)數(shù)還應(yīng)與被測(cè)通道模板的度請(qǐng)求相等。
☀ 例如:某AI通道模板某一路的測(cè)量規(guī)模為0-賀，度請(qǐng)求為0.2級(jí)則其量程為5v，實(shí)驗(yàn)點(diǎn)可選定為量程的5%,20%,40%，50%，60%，80%，95%，合計(jì)7個(gè)點(diǎn)。
☀ 度查看過(guò)程如下:任選一路，先后參加選定的不一樣輸入信號(hào)真值;運(yùn)用測(cè)驗(yàn)查看程序，對(duì)每個(gè)實(shí)驗(yàn)點(diǎn)別離重復(fù)L次測(cè)驗(yàn)，重復(fù)次數(shù)L能夠從32，64，128，256，512，124中任選一種，然后依據(jù)測(cè)得的數(shù)據(jù)，按下列核算式，別離核算每個(gè)實(shí)驗(yàn)點(diǎn)的平均差錯(cuò)與均方根差錯(cuò)。


☀ 依照上述辦法，對(duì)各路進(jìn)行測(cè)驗(yàn)，若有也許也能夠多路一起測(cè)驗(yàn)。依據(jù)測(cè)驗(yàn)核算成果，挑選各路各測(cè)驗(yàn)點(diǎn)中測(cè)得的度值表明該模板的度。
☀ 當(dāng)以平均差錯(cuò)鑒定通道模板功能時(shí)，應(yīng)挑選測(cè)驗(yàn)成果中的平均差錯(cuò)來(lái)表明。